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事業内容

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取り扱い商品

クリーンウェハ(経過品、ダミー、テスト、モニター)

クリーンウェハ
クリーンウェハ
クリーンウェハ
 
ウェハ一般規格 2インチ 3インチ 4インチ 5インチ 6インチ 8インチ 12インチ
直径(mm) JEIDA 50.0±0.5 76.0±0.5 100.0±0.5 125.0±0.5 150.0±0.5 200.0±0.2 300.0±0.2
SEMI 50.8±0.38 76.2±0.63
厚み(μm) JEIDA 280±25 380±25 525±25 525/625±25 625±25 725±25 775±25
SEMI 675±25μm
OF長さ(cm)/Vnotch JEIDA 17.5±2.5mm 22.0±2.5 32.5±2.5 42.5±2.5 47.5±2.5 57.5±2.5/V Notch V Notch
SEMI 15.88±2.5mm 22.22±2.5 57.5±2.5
抵抗値 ≦0.05Ω/≧1Ω/1~100Ω/≧1000Ω
グレード ダミー/テスト/モニター
その他仕様 厚み/面状態/製造方法/導電型/抵抗率/結晶方位/ノッチ方位/パーティークル/金属汚染/TTV/BOW/WARP

コインロールウェハ

コインロールウェハ
コインロールウェハ
コインロールウェハ
 
ウェハ一般規格 2インチ 3インチ 4インチ 5インチ 6インチ 8インチ 12インチ
直径(mm) JEIDA 50.0±0.5 76.0±0.5 100.0±0.5 125.0±0.5 150.0±0.5 200.0±0.2 300.0±0.2
SEMI 50.8±0.38 76.2±0.63
厚み(μm) JEIDA 280±25 380±25 525±25 525/625±25 625±25 725±25 775±25
SEMI 675±25μm
OF長さ(cm)/Vnotch JEIDA 17.5±2.5mm 22.0±2.5 32.5±2.5 42.5±2.5 47.5±2.5 57.5±2.5/V Notch V Notch
SEMI 15.88±2.5mm 22.22±2.5 57.5±2.5
抵抗値 ≦0.05Ω/≧1Ω/1~100Ω/≧1000Ω
面状態 MP/ET MP/MP
グレード コインロール
その他仕様 厚み/抵抗値/面状態/導電型/結晶方位/ノッチ方位

ポットスクラップ

ポットスクラップ
ポットスクラップ

その他

その他
その他
その他
 
化合物ウェハ(SIC、GaN、SOI etc...)、膜付きウェハ、パターンウェハ、ケース
 
※その他希望の厚み、レーザーマーク有無、導電型、ドーパント、結晶方位、面状態、金属汚染等、膜種、膜厚みなどございましたらお気軽にお問い合わせください。

弊社では、丁寧なヒアリングを行いお客様にあった最適なウェハをご提案させていただきます。カセットケース入り、コインロールケース入りなどご希望に合わせた形態でご案内可能です。タイプや厚みをなど不問の場合は価格を抑えたウェハの販売も可能です。